IC-­CAP WaferPro: програмне середовище для автоматизованих вимірювань ВАХ, ВФХ і ВЧ характеристик у САПР IC­-CAP

Вашій увазі пропонується стаття:

IC-­CAP WaferPro: програмне середовище для автоматизованих вимірювань ВАХ, ВФХ і ВЧ характеристик у САПР IC­-CAP 

Роберто Тінті (Roberto Tinti), Такаші Егуші (Takashi Eguchi), Франц Сіщка (Franz Sischka), Франсуа Паоліні (Francois Paolini); переклад: Вадим Потапенко, редагування: Віктор Бутирін.

Компанія Keysight Technologies пропонує комплексне рішення для автоматизованого вимірювання ВАХ, ВФХ і ВЧ характеристик, яке допомагає інженерам, які займаються моделюванням і розробкою напівпровідникових приладів, підвищити ефективність вимірювань на напівпровідниковій пластині за різних температур. Рішення IC­CAP Wafer Professional (IC-­CAP WaferPro) на базі САПР IC­-CAP (Integrated Circuit Characterization and Analysis Program) дає змогу ефективно керувати характеріографами, аналізаторами ланцюгів, зондовими станціями, матричними комутаторами, термокамерами, а також потужними параметричними тестерами Keysight серій 407x і 408x.

Її було опубліковано в 1-му номері журналу CHIP NEWS (www.chipnews.com.ua) за 2025 рік, який виходить в електронному вигляді й знаходиться на гугл-диску у вільному доступі. Для його завантаження є 2 варіанти, що відрізняються лише розмірами (якістю окремих растрових зображень).

ChipNews 1-2025 - 10 МБ

ChipNews 1-2025 - 30 МБ

Всі лінки, що є в рекламах, візитках, новинах та статтях журналу - активні, також активні переходи на сторінки статей на сторінках змісту та на обкладинці.

Приєднуйтесь до Телеграм-каналу журналу: t.me/chipnewsua

Читайте з користю та задоволенням!