Главная > Keysight Technologies > Анализаторы параметров цепей
E5080A Анализатор цепей серии ENA
Ключевые возможности и технические характеристики
- Диапазон частот от 9 кГц до 4,5 ГГц, 6,5 ГГц или 9 ГГц; 2 или 4 измерительных порта, 50 Ом
- Широкий динамический диапазон: до 152 дБ (тип.)
- Высокая скорость измерений: 3 мс (401 точка)
- Низкий уровень зашумленности графика: 0,0005 дБ СКЗ (тип.)
- Высокая температурная стабильность: 0,005 дБ/°C
- Широкий диапазон выходной мощности источника: от –90 дБ до +15 дБ (норм.)
- Интуитивно понятный графический пользовательский интерфейс на основе большого сенсорного экрана высокого разрешения с диагональю 30,7 см (12,1 дюйма)
- Возможность создания системы, содержащей до 40 измерительных портов при использовании многопортовых блоков E5092A
Описание
Анализатор Keysight E5080A представляет собой новое поколение анализаторов цепей серии ENA, обеспечивая лучшие в своем классе характеристики, широкие функциональные возможности и удобство использования. Благодаря интуитивно понятному интерфейсу на основе сенсорного экрана анализатор E5080A позволяет оптимизировать процесс измерений и получать более достоверные данные за более короткое время. Этот новый прибор выполнен на объединенной платформе, что дает возможность максимально эффективно использовать преимущества анализаторов серий ENA и PNA.
Анализатор цепей E5080A обеспечивает широкие функциональные возможности по измерению параметров различных активных и пассивных компонентов, например, усилителей, смесителей, фильтров, дуплексеров, антенн и кабелей, включая балансные измерения тестируемых устройств.
Улучшенные аналоговые характеристики гарантируют повышение скорости тестирования в процессе производства. В ходе исследований и разработок прибор обеспечивает высокий уровень достоверности измерений, который помогает значительно повысить качество разрабатываемых изделий и сократить сроки вывода новых продуктов на рынок. Улучшенные характеристики анализатора E5080A, включая чрезвычайно широкий динамический диапазон, удовлетворяют самым строгим требованиям по измерению параметров перспективных ВЧ устройств.
