unitest
Измерительное оборудование Юнитест
buttons contacts theory about us home

Группа электронных измерений Agilent становится независимой компанией | Keysight Technologies.

Главная > Keysight Technologies > Анализаторы параметров цепей > СВЧ Анализаторы цепей серии PNA-L

N5235A СВЧ анализатор цепей серии PNA-L, 50 ГГц

Keysight N5235A

Ключевые возможности и технические характеристики

Высокоэффективный векторный анализатор цепей среднего ценового диапазона позволяет повысить производительность при более узкой защитной полосе

  • Диапазон частот: от 10 МГц до 50 ГГц
  • 2 измерительных порта с одним встроенным источником
  • Динамический диапазон 110 дБ, 100 001 точка трассы, 200 каналов, ширина полосы ПЧ от 1 Гц до 15 МГц
  • Высокая выходная мощность: 0 дБм
  • Низкий уровень собственных шумов: –110 дБм при ширине полосы ПЧ 10 Гц

Описание

Анализатор цепей Keysight N5235A серии PNA-L представляет собой высокопроизводительный СВЧ векторный анализатор цепей среднего ценового диапазона, позволяющий решать широкий круг задач в процессе разработки и производства. Анализаторы серии PNA-L предназначены для измерения параметров пассивных компонентов и несложных активных устройств, таких как усилители и преобразователи частоты. Анализаторы PNA-L являются самым передовым решением для измерения S-параметров, обеспечивающим наилучшее соотношение цены и возможностей.

В серию PNA-L входит пять моделей векторных анализаторов цепей. Три модели имеют нижнюю границу частотного диапазона 300 кГц, а верхнюю — 8,5 ГГц (N5239A), 13,5 ГГц (N5231A) и 20 ГГц (N5232A). Две другие модели имеют нижнюю границу частотного диапазона 10 МГц, а верхнюю — 43,5 ГГц (N5234A) и 50 ГГц (N5235A). Модели N5231A (13,5 ГГц) и N5232A (20 ГГц) имеют по два или по четыре измерительных порта, остальные модели — только по два измерительных порта.

Векторные анализаторы N523xA серии PNA-L предназначены для замены анализаторов серии N5230C и полностью с ними совместимы, что позволяет использовать имеющиеся программные коды без преобразования.

Приложения

  • измерения S-параметров
  • измерение компрессии коэффициента усиления
  • измерение усиления/потерь преобразования
  • измерения параметров материалов
  • анализ целостности сигнала

Подробнее (англ.) pdf