unitest
Измерительное оборудование Юнитест
buttons contacts theory about us home
Главная > Новости измерительной техники

Keysight и WIN Semiconductors сотрудничают с целью снижения рисков при проектировании высокочастотных РЧ-компонентов

Новый рабочий процесс проектирования нитрид-галлиевых монолитных интегральных схем СВЧ (GaN MMIC) снижает риски при производстве чипов для сетей 5G, спутниковой связи и оборонной промышленности

САНТА-РОЗА, штат Калифорния, 30 июня 2026 г.

Компании Keysight Technologies, Inc. (NYSE: KEYS) и WIN Semiconductors Corp. сегодня объявили о создании совместного рабочего процесса проектирования монолитных интегральных схем СВЧ (МИС СВЧ), который позволяет центрам разработки GaN MMIC успешно осуществлять передачу проекта на фабрику (tapeout) с первой же попытки. Данный рабочий процесс объединяет в единой среде многодоменное моделирование на уровне кристалла, трехмерное проектирование топологии с проведением верификации, а также разработку внешних отладочных плат для МИС СВЧ. Это решение призвано поддержать растущее число компаний, занимающихся созданием GaN MMIC для базовых станций 5G, точек доступа Wi-Fi, полезной нагрузки спутников и оборонных радиолокационных систем.

Неудачная передача проекта на фабрику может привести к потере нескольких недель, затраченных на повторный цикл производства на полупроводниковом заводе. Новый рабочий процесс полностью автоматизирует весь комплекс этапов моделирования, оптимизации и верификации, необходимых для окончательного утверждения проекта МИС СВЧ, гарантируя, что ни один вид анализа не будет пропущен до отправки готовой топологии на завод для изготовления чипа.

Заказчики МИС СВЧ не примут решение о покупке до тех пор, пока не смогут измерить реальные характеристики изделия на физической отладочной плате, включающей в себя саму микросхему, корпус, печатную плату и тестовые разъемы. Представленный рабочий процесс позволяет инженерам совместно проектировать и оптимизировать компоненты как на самом кристалле, так и за его пределами, обеспечивая соответствие рабочих характеристик техническим требованиям, подтвержденным с помощью контрольно-измерительного оборудования. По прогнозам, мировой рынок нитрид-галлиевых радиочастотных устройств достигнет 2,77 миллиарда долларов США к 2031 году, и центры проектирования МИС СВЧ, которые не могут продемонстрировать требуемые характеристики на отладочной плате, рискуют упустить свою долю в этом растущем сегменте.

Новейший комплект технологического проектирования NP 120P GaN Process Design Kit (PDK) от WIN Semiconductors предоставляет разработчикам МИС СВЧ доступ к точным технологическим моделям и правилам проектирования топологии. Интеграция этих моделей в программное обеспечение Keysight Advanced Design System (ADS) и RF Circuit Simulation Professional позволяет автоматизировать рабочий процесс для успешной сдачи МИС СВЧ на фабрику с первой попытки.

Ричард Куо (Richard Kuo), директор по услугам проектирования в компании WIN Semiconductors, отметил: «Мы рады сотрудничать с Keysight для предоставления специализированного решения проверки соответствия топологии схеме (LVS) в составе WIN ADS PDK. Объединив экспертный опыт Keysight в области ADS с нашим надежным комплектом PDK и передовой технологией производства, мы предложили комплексное решение для верификации, которое оптимизировало процесс проектирования для наших заказчиков и позволило с большей уверенностью и надежностью ускорить вывод современных радиочастотных продуктов на рынок».

Нилеш Камдар (Nilesh Kamdar), генеральный менеджер подразделения EDA в департаменте программного обеспечения для проектирования компании Keysight, сказал: «Полнофункциональный комплект PDK от WIN в сочетании с инструментами моделирования и верификации Keysight предоставляет разработчикам единый сквозной маршрут — от проектирования чипа до создания отладочной платы. Теперь дизайн-центры могут доказать полную работоспособность и производительность всей системы еще до начала производства, что дает их заказчикам уверенность, необходимую для принятия финальных решений».

Ресурсы

Источник: Keysight Press Releases